Translations:Project-elements/8/ar

• • مسح المفصلة أو مسح الإطباق: يمكن إجراء هذا المسح إما عن طريق مسح أي نوع من أنواع المفصلات على لوحة دعم المفصلة، أو عن طريق مسح نموذجين أحدهما فوق الآخر على حامل النموذج العادي.
• مسح النموذجين العلوي أو السفلي: إذا كانت هناك حاجة إلى مسح كلا النموذجين ضوئيًا، فدائمًا ما يكون أولهما هو النموذج السفلي. وبالنسبة إلى هذا المسح الضوئي، يجب إدراج النموذجين في الماسح الضوئي بدون اللثة السيليكون، أو العلامات، أو عمليات تحضير، أو شمع.
• تحصيل مرجع الشمع: يجب مسح مرجع الشمع فوق النموذج للحصول على مرجع الموضع.